顆粒粒徑分析儀是一種測量、呈現和報告特定粒子或者液滴群粒度分布的分析儀。它在工藝開發以及粒子系統質量控制方面起到重要作用，可建立起高效的工藝和取得高質量的最終產品。

 

　　工作原理：

　　動態光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

 

　　測量范圍：

　　測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

　　產品特點：

　　1、顆粒粒徑分析儀集光學、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環、全自動清洗一體化，電腦控制下自動對中。樣品在管道內流動的時間短，避免了樣品分散后的分層和重新團聚。重復性、穩定性達到國外同類儀器測量水平。

　　2、儀器采用先進的成型工藝，使儀器的結構緊湊合理，即測量單元和進樣系統渾然一體，外形美觀大方，使用維護方便；采用新的抗干擾技術，使儀器的電氣穩定性更好，故障率更低。

　　3、采用串行數據傳輸方式，可以方便地與各種筆記本電腦、臺式電腦連接組成粒度測試系統，*告別了傳統的板卡連接方式。

　　4、特別采取了防震、防塵、防潮設計，便于運輸和在惡劣環境下工作。

　　5、可預置測試模式：針對各種不同的樣品，可預置不同的測試參數組合，使用戶能方便地獲得可靠、高再現性的測試結果。