顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術相比，不僅能夠測定顆粒的大小和數量，還能測量粒子的形狀、形態，對于顆粒組成、結構、來源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數，并且可以給出其他分析方法的對應報告結果（沉降法、電阻法、激光法）達到一機多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產加工企業提供良好的產品質量信息和生產工藝的。

 

　　顆粒跟蹤分析儀理論：

 

　　平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

 

　　納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態光散射（DLS）

 

　　所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

 

　　顆粒跟蹤分析儀測量范圍

 

　　測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

　　源于視頻分析的顆粒計數

 

　　顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑。可檢測的zui小濃度為105粒子/cm3，zui大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，zui大體積濃度為1000ppm。

 

　　顆粒跟蹤分析儀特點 - 全自動和無源穩定性

 

　　自動校準程序會持續工作，即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

 

　　顆粒分析儀型號量程及性能特點：

 

　　1、全自動激光粒度儀操作簡便，測試全程自動化，從分散介質的加入、超聲、攪拌、到數據采集、測試輸出、清洗等過程均可自動完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時間可自由設定。

 

　　3、粒度儀測試軟件設計人性化，界面友好，測試操作即學即會。

 

　　4、粒度儀應用全程米氏散射理論，使測試結果更加真實可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統，有效的降低了人為誤差對測試結果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設計的40路光電探測器，使測試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統計結果。

 

　　8、便攜式設計，體積更小、重量更輕。

 

　　顆粒粒徑分析儀在監測和評估過濾器的效率，定量監測出水顆粒物，監測和控制有害病原微生 物等方面提供準確、及時的參考依據，可以保證飲水安全性，優化生產工藝，提高出水水質，節約生產成本。

 

　　顆粒粒徑分析儀是迄今為止功能zui全、分辨率zui高的顆粒計數及粒度分析儀。粒徑分析儀在做粉體測試時，粉體需*分散在*體內，而且要非常稀釋，通常粉體的能量是0.1vol%以下。由于粉體相互干擾，或透光強度減弱，測量結果的正確性可能有問題。通常使用液體當粉體的分散媒體，如果粉體非常細，有時也用空氣當分散媒體。

 

　　粉體在粒徑分析時，*分散在媒體中非常重要，粉體不能集聚在一團，以致儀器誤認做單個粉體。通常當粉體分散在媒體中時，都加少量的分散劑，并放在超聲波振蕩器中充分震蕩，使粉體*分散，常用的分散劑是焦磷酸鈉，帶很多電荷的焦磷酸根吸附于粉體表面，使每顆粉體產生很強的相互排斥力而彼此分開。

 

　　顆粒粒徑分析儀可在工業場所實時測量顆粒物濃度和粒徑，并可提供各種附件以滿足不同的監測和粒徑分析的需要，直接使用現有的過程控制裝置計算制造過程趨勢和在線修正產品，代替或補充傳統顆粒測量的篩分方法。該儀器檢查和分析顆粒粒徑分布，粒徑范圍40m至40mm，使用一個電荷耦合照相機快速捕獲圖像。在照相機的可視區給料裝置提供持續不變的產品流。對材料進行特殊的照明使得照相機能夠捕捉到粒狀產品的勾邊圖像，然后數字圖像被輸送到中央處理器pola-3000軟件進行數據分析，并提供詳細的統計過程控制信息，用來解釋和分析顆粒粒徑分布。

 

　　顆粒粒徑分析儀可在工業場所實時測量顆粒物濃度和粒徑，并可提供各種附件以滿足不同的監測和粒徑分析的需要，直接使用現有的過程控制裝置計算制造過程趨勢和在線修正產品，代替或補充傳統顆粒測量的篩分方法。

 

　　該儀器檢查和分析顆粒粒徑分布，粒徑范圍40m至40mm，使用一個電荷耦合照相機快速捕獲圖像。在照相機的可視區給料裝置提供持續不變的產品流。對材料進行特殊的照明使得照相機能夠捕捉到粒狀產品的勾邊圖像，然后數字圖像被輸送到中央處理器pola-3000軟件進行數據分析，并提供詳細的統計過程控制信息，用來解釋和分析顆粒粒徑分布。

 

　　顆粒粒徑分析儀是迄今為止功能zui全、分辨率zui高的顆粒計數及粒度分析儀。粒徑分析儀在做粉體測試時，粉體需*分散在*體內，而且要非常稀釋，通常粉體的能量是0.1vol%以下。由于粉體相互干擾，或透光強度減弱，測量結果的正確性可能有問題。

 

　　通常使用液體當粉體的分散媒體，如果粉體非常細，有時也用空氣當分散媒體。粉體在粒徑分析時，*分散在媒體中非常重要，粉體不能集聚在一團，以致儀器誤認做單個粉體。通常當粉體分散在媒體中時，都加少量的分散劑，并放在超聲波振蕩器中充分震蕩，使粉體*分散，常用的分散劑是焦磷酸鈉，帶很多電荷的焦磷酸根吸附于粉體表面，使每顆粉體產生很強的相互排斥力而彼此分開。

 

　　顆粒粒徑分析儀所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

 

　　顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術相比，不僅能夠測定顆粒的大小和數量，還能測量粒子的形狀、形態，對于顆粒組成、結構、來源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數，并且可以給出其他分析方法的對應報告結果（沉降法、電阻法、激光法）達到一機多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產加工企業提供良好的產品質量信息和生產工藝的。

 

　　顆粒分析儀型號量程及性能特點：

 

　　1、全自動激光粒度儀操作簡便，測試全程自動化，從分散介質的加入、超聲、攪拌、到數據采集、測試輸出、清洗等過程均可自動完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時間可自由設定。

 

　　3、粒度儀測試軟件設計人性化，界面友好，測試操作即學即會。

 

　　4、粒度儀應用全程米氏散射理論，使測試結果更加真實可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統，有效的降低了人為誤差對測試結果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設計的40路光電探測器，使測試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統計結果。

 

　　8、便攜式設計，體積更小、重量更輕。

 

　　1）篩分法：篩分法是一種zui傳統的粒度測試方法，也是過去zui常用的方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，可以用單個篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率，也可以用多個篩子疊加起來同時測量多個粒徑顆粒的通過率，并計算出百分數。篩分法有手工篩、振動篩、負壓篩、全自動篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與顆粒的取向和篩分時間等素因素有關，不同的行業有各自的篩分方法標準。

 

　　（2）顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測量與實際顆粒投進面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數碼像機）、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸到計算機中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量，就可以得到粒度分布了。

 

　　由于這種方法單次所測到的顆粒個數較少，對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結果的真實性。除了進行粒度測試之外，它還常用來觀察和測試顆粒的形貌

 

　　（3）刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評價樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業采用的一種方法。

 

　　（3）沉降法：依據顆粒的沉降速度作等效對比，所測的粒徑為等效沉速徑，即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質球形顆粒的直徑來代表實際顆粒的大小。有簡單的沉降瓶法和按此原理設計的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進行顆粒粒度的測量和分析。樣品被注入到高速旋轉的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測頭被檢測并拾取。因為大小不同的顆粒到達檢測頭的時間不同，因此通過記錄顆粒到達檢測頭的時間，就可以知道顆粒的大小，

 

　　（4）電阻法：電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人發明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過一個小微孔的瞬間，占據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體，使小微孔兩端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時，小微孔的兩端將連續產生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了。

 

　　（5）激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，所測出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的大小。當被測顆粒為球形時，其等效粒徑就是它的實際直徑。一般認為激光法所測的直徑為等效體積徑。該方法測定速度快，不過從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

 

　　（6）透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個金屬管里并壓實，將這個金屬管安裝到一個氣路里形成一個閉環氣路。顆粒粒徑分析儀當氣路中的氣體流動時，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就小；樣品較細，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動所受的阻礙就大。透氣法就是根據這樣一個原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個平均粒度值，不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業。

 

　　（7）超聲波法：通過不同粒徑顆粒對超聲波產生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達到70%的高濃度漿料。

 

　　（8）相關法：用光子相關原理測量粒度的一種方法，主要用來測量納米材料的粒度分布。