激光粒度儀高分辨率的保障-多波長測量、偏振光技術
點擊次數：5804 更新時間：2012-03-19
激光粒度儀高分辨率的保障---多波長測量及偏振光技術
許多使用者選擇激光粒度儀的時候對儀器分辨率認識未必足夠。分辨率直接影響儀器所測量結果的可靠性與準確度。激光粒度儀應用越來越廣泛，但是使用者在選擇儀器的時候往往具有從眾心理，忽略了儀器測量的重現性、準確性問題，還有很重要的分辨率的問題。可以說分辨率的高低是直接區分激光粒度儀檔次的標志之一，而并非僅僅以占有率來的作為非科學的判斷。
貝克曼庫爾特公司的技術PIDS 是目前可為激光粒度儀提供zui高分辨率的技術。擁有該技術的儀器型號有：LS 13320 / LS 230 等。有關PIDS 技術的介紹，請參照技術文章。
The sizing of non-spherical sub-micron particles using
Polarisation IntensityDifferentialScattering （PIDS）
用偏光強度差異散射法分析非球狀亞微粒子
幾乎所有采用激光散射法的粒度分析儀器在測試時都沒有考慮粒子的形狀，不重視粒子的尺寸，原因是在于利用分析過程中獲得的原始數據計算粒徑分布時的基本假設。
用于計算粒徑分布的數學模型是基于球形體系的，因此所有粒徑分布結果都是被分析材料的等效的球狀分布。在大多數實例中，這個結果相當合理，因為大多數粒子都足于近似為球形體系。
貝克曼庫爾特公司LS13320系列多波長激光粒度分析儀采用一種令人稱頌的散射技術來分析亞微粒子，這種技術將通過具體實例來解釋用PIDS系統是如何對非球形粒子進行分析的。
為什么使用PIDS
為什么要使用PIDS來分析亞微粒子而不是采用標準的前面的提到的被大多數儀器制造商采用的小角散射技術呢？我們主要的目的不是來討論詳細的光散射原理，而是比較他們在分析相關的小粒子時的重要因素。
當用激光束照射時，大粒子在小角度強烈散射光線，這在散射模式中很容易檢測到zui大值和zui小值。這就是說把探測器放在相對于光線的一個足夠小的角度，就可以有足夠的分辨率來探測zui大值和zui小值。
相反，小粒子只有微弱的光散射，并且沒有可探測到的zui大值和zui小值，只有當測試角度達到足夠大的角度時才能探測到。這就給檢測和分辯率帶來困難。
如圖1所示，如果粒子的粒徑小于1微米時，我們在測試微弱的散射信號就面臨相當的困難了，其次我們還面臨一個在如此高的角度測試zui大值和zui小值的硬件限制問題。
許多制造商采取了不同的辦法來克服這些限制，也取得了一定程度的成功，多數都是集中在背散射光的測試上，同時這些策略沒有完*問題，這應該是一個障礙。
基于這個原因，貝克曼庫爾特公司開發出了高分辨率亞微粒子粒徑分析的PIDS技術，完*了亞微粒子粒徑分析的問題。
PIDS技術非常簡單，并且具有安裝容易的以及能夠用光散射的Mie理論解釋的優點。
PIDS技術依賴于光的傳播特性，即光線包含一個磁性向量和一個電向量，二者成九十度角。例如如果電向量是上下方向，這個光就叫做垂直偏振光。
當我們用一個已知波長的偏振光照射試樣時，試樣內的電子的振動電場將形成一個偶極子或單一振動環，這些單一振動環將與所傳播的光在同一個平面內，粒子內的振動偶極子向除入射光源方向外的其他方向散射光線。
在這方面PIDS技術具有優勢，用三種波長的光同時照射試樣（先用水平然后垂直的偏振光），我們測試到從試樣散射或輻射的光都超過一個角度范圍。通過分析每個波長下水平和垂直方向散射光的不同，我們獲得了試樣粒徑分布的信息。應該注意到我們僅僅是分析在垂直和水平方向上信號的不同而不是具體的數值。
從PIDS信號獲得的強度對散射角的信息使用從激光散射中的強度和散射角的標準方法計算可以得到一個連續的粒徑分布，在LS13320中是0.017微米到2000微米。
獲得PIDS數據的一個主要優點是通過簡單地分析原始數據我們就可以判斷是否存在小粒子。
亞微粒子粒徑分析：
首先讓我們來檢測一下PIDS在對球狀粒子粒徑分析的有效性，的方法是測試單獨測定過的粒子，已證明聚苯乙烯粒子的光學性能很好并且材料來源可靠。
特征平均粒徑：
標稱粒徑 測定粒徑 LS 13320測試粒徑
100nm 102nm ± 3nm 108nm
150nm 155nm ± 4nm 151nm
220nm 220nm ± 6nm 211nm
300nm 300nm ± 5nm 306nm
404nm 404nm ± 6nm 400nm
上面已經證明了PIDS在測定球狀粒子的粒徑時的適用性，下面讓我們繼續評價PIDS對非球狀粒子的測試。
非球狀亞微粒子粒徑分析：
由于缺少高質量的，單獨生產和標定的材料，到目前為止用于這項研究的單一的合適的非球狀亞微粒子來源還非常困難。然而，烏得勒支大學膠體化學系現在生產了一系列單分散的非球狀材料，下面是用于分析的赤鐵礦紡錘體亞微粒子（扁球狀）。這種粒子的粒徑（掃面電鏡測試）是46.9納米寬，103.8納米長，長徑比大約為3：1，而且粒子是單尺寸易分散的。
赤鐵礦紡錘體的光學性能是用紫外光/可見光光譜測定的，反射指數是虛數部分，而紫外光/可見光光譜中橢圓對稱的數據是實數部分。
LS 13320分析報告的粒徑是78nm，這與粒子在試樣池的隨機運動所能預測的粒徑非常相符。在統計學上，我們可以把報告的平均粒徑看作是粒子在光線中存在的所有可能的取向的函數。實際上，儀器是設計成能保證粒子在樣品池中是關于它們的相態和形狀以隨機方式取向的。PIDS原始數據分析：
如前面提到的，由于原始數據也可以顯示在分布中是否存在小粒子，因此PIDS具有兩個優點。這是LS 13320*的特點，而且在當需要確定亞微粒子是真實的還是假相時可以排除猜測工作，在一些激光粒徑分析儀上發現會出現一些意外的影響。原始數據的分析對確定和發展光學模型也有幫助。
大粒子的存在不會干擾PIDS的信號并且不會出現假相，因為大粒子同時也會出現許多散射，它們可以被PIDS系統檢測到，它們在特性上沒有差異。很簡單，大粒子每個波長上在水平和垂直方向散射相同的光，如前面提到的，PIDS系統是測試偏振光散射信號的差別（只在小粒子中存在）型分析的PIDS原始數據。
這些數據是一組42個不連續的測試，組成6個子集（如圖5所示），每一自己代表一個特定的波長和偏振現象。
對于亞微粒子，應注意以下事項：
l 對于每一個不同波長的偏振光，其PIDS強度具有很大的差別。
l 在每個波長下的水平散射數據尤其是水平數據形成的曲線形狀存在明顯的角度依賴性（數量對角度/檢測數量的形狀變化）。
l 具有大的容易檢測的信號（探測數量，Y軸）
也應注意在信號中的zui大的不同，對于這個試樣，每個偏振現象是在450nm處觀察到的，這表明粒子尺寸是移向儀器范圍的更小的那端。例如，如果zui大的差別出現在600nm處，這說明粒子尺寸是在PIDS探測系統的中間范圍，大約為200～300nm。
對于大粒子材料應注意以下事項：
· 在每個波長下的偏振現象沒有明顯的差異。
· 對于每個波長在角度散射強度方面，兩個偏振狀態有一個簡單的線性關系
· 很小的散射信號（探測數量，Y軸）
結論
這項工作說明偏振強度差示散射是一個球狀亞微粒子粒徑分析的的并且可用的技術。即使對于非球狀亞微粒子，盡管所有的用于非球狀亞微粒子的散射技術都受到限制，這項技術還是可以獲得非常有意義的數據。
